解析機能

FlatMaster専用の解析ソフトには、様々な機能が搭載されています。以下の機能で特に注記のないものは、追加オプションなしでお使い頂けます。

工程間の差分解析

加工前後に測定したデータ同士から、差分を求めることができます。

Micro Waviness(表面うねり)解析

必要な波長成分のみを取り出す機能があります。FlatMasterでは形状成分~うねり成分(MicroWaviness)まで解析可能です。全体形状の解析では埋もれてしまう加工痕を抽出・解析するのに有効です。また、シール面のうねり成分のみを抽出することで、圧着して全体の形状が変形した後も残る表面うねりを解析することができます。

平面度解析

加工痕のみ抽出

再解析機能

一度取得したデータは、エッジカットやフィルタ条件等を変えて、何度でも解析ができます。条件を変えた結果同士を並べて表示し、比較することもできます。

測定プロットのアレンジメント

測定結果は等高線図、鳥瞰図、2Dプロット、3Dプロット等、様々な形で表示できます。
断面は直線と円の2種類でとれます。角度、位置、大きさは任意に設定可能です。

また、とれたデータの範囲を表示できますので、外周がどの程度欠落したかもわかります。

こうしたプロットだけでなく、1ピクセルごとの位相差がcsvデータでも自動保存されます。

その他

上記以外にも様々な解析機能があります。また、ご要望に応じて測定方法や測定治具のご提案等もさせて頂きます。「こんな測定がしたい!」というご希望がございましたら、ぜひ一度お聞かせ下さい。

 

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エスオーエル株式会社

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